On the use of harmonically modulated lateral force microscopy (HM-LFM) and force modulation microscopy (FMM) for the study of reinforced polymers

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Autor*innen:Martin Munz
Koautor*innen:Eckhard Schulz, Heinz Sturm
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):4th International Conference on the Development and Technical Application of Scanning Probe Methods (SXM4)
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Veranstaltung:4th International Conference on the Development and Technical Application of Scanning Probe Methods (SXM4)
Veranstaltungsort:Münster, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2000-09-26
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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