Der Kompilanz-Modus als Methode zur Charakterisierung der Interphase faserverstärkter Polymere

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Martin Munz
Koautor*innen:Heinz Sturm, Eckhard Schulz, G. Hinrichsen
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):2. Workshop Raster-Sonden-Mikroskopie an Polymeren im Rahmen des Jahreskolloquiums des SFB 239
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Veranstaltung:2. Workshop Raster-Sonden-Mikroskopie an Polymeren im Rahmen des Jahreskolloquiums des SFB 239
Veranstaltungsort:Ulm, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1996-11-22
Enddatum der Veranstaltung:1996-11-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.