X-Ray Refraction Topography characterizes Internal Nano Interfaces
MetadatenAutor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD |
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Koautor*innen: | Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Veranstaltung: | 16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004) |
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Veranstaltungsort: | Montreal, Canada |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-08-30 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-09-03 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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