A comparison study between Time-of-Flight Static Secondary lon Mass Spectrometry (TOF-SSIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) in terms of Poly-dimethyl-siloxane (PDMS) contemination of Polystyrene (PS) samples
MetadatenAutor*innen: | Umut Oran |
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Koautor*innen: | Thomas Wirth, Wolfgang Unger, E. Unveren |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '03) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
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Veranstaltung: | 10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '03) |
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Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-09-05 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2003-09-10 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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