A comparison study between Time-of-Flight Static Secondary lon Mass Spectrometry (TOF-SSIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) in terms of Poly-dimethyl-siloxane (PDMS) contemination of Polystyrene (PS) samples

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Metadaten
Autor*innen:Umut Oran
Koautor*innen:Thomas Wirth, Wolfgang Unger, E. Unveren
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '03)
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Veranstaltung:10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '03)
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2003-09-05
Enddatum der Veranstaltung:2003-09-10
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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