The lateral resolution of ToF-SIMS analysed by means of an advanced nanoscale strip-pattern

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Metadaten
Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD
Koautor*innen:Mathias Senoner, Thomas Wirth
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV)
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Veranstaltung:15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV)
Veranstaltungsort:Manchester, England
Beginndatum der Veranstaltung:2005-09-12
Enddatum der Veranstaltung:2005-09-16
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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