The lateral resolution of ToF-SIMS analysed by means of an advanced nanoscale strip-pattern
MetadatenAutor*innen: | Wolfgang UngerORCiD |
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Koautor*innen: | Mathias Senoner, Thomas Wirth |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Veranstaltung: | 15th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XV) |
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Veranstaltungsort: | Manchester, England |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2005-09-12 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2005-09-16 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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