A new nanoscaled strip-pattern for the determination of lateral resolution in surface analysis

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Autor*innen:Mathias Senoner
Koautor*innen:Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis ECASIA`05
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Veranstaltung:11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis ECASIA`05
Veranstaltungsort:Vienna, Austria
Beginndatum der Veranstaltung:2005-09-25
Enddatum der Veranstaltung:2005-09-30
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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