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Surface Plasmon Enhanced Total Internal Reflection Ellipsometry for Detecting and Monitoring of Hazardous Gases

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Autor*innen:Alida Nooke
Koautor*innen:Uwe Beck, Andreas Hertwig, Hannes Krüger, Matthias Weise, Andreas Krause, Volkmar Lohse
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Veranstaltung:5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
Veranstaltungsort:Albany, NY, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2010-05-23
Enddatum der Veranstaltung:2010-05-28
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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