Surface Plasmon Enhanced Total Internal Reflection Ellipsometry for Detecting and Monitoring of Hazardous Gases
Autor*innen: | Alida Nooke |
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Koautor*innen: | Uwe Beck, Andreas Hertwig, Hannes Krüger, Matthias Weise, Andreas Krause, Volkmar Lohse |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Veranstaltung: | 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
Veranstaltungsort: | Albany, NY, USA |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2010-05-23 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2010-05-28 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |