Investigation of silica nanoparticles by Auger electron spectroscopy (AES)
- High-priority industrial nanomaterials like SiO2, TiO2, and Ag are being characterized on a systematic basis within the framework of the EU FP7 research project NanoValid. Silica nanoparticles from an industrial source have been analyzed by Auger electron spectroscopy. Point, line, and map spectra were collected. Material specific and methodological aspects causing the special course of Auger line scan signals will be discussed.
Autor*innen: | Steffi Rades, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Surface and interface analysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2014 |
Verlag: | Wiley |
Verlagsort: | Chichester |
Jahrgang/Band: | 46 |
Ausgabe/Heft: | 10-11 |
Erste Seite: | 952 |
Letzte Seite: | 956 |
Freie Schlagwörter: | Auger electron spectroscopy; Nanoparticles; Surface analysis |
DOI: | 10.1002/sia.5378 |
ISSN: | 0142-2421 |
ISSN: | 1096-9918 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 13.10.2014 |