The focused ion beam technique - eine interessante Alternative, auch für konventionelle Werkstoffe
MetadatenAutor*innen: | Werner ÖsterleORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | VDEh-Arbeitskreis, Elektronenmicroskopie |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2002 |
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Veranstaltung: | VDEh-Arbeitskreis, Elektronenmicroskopie |
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Veranstaltungsort: | Duisburg, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2002-11-07 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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