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The focused ion beam technique - eine interessante Alternative, auch für konventionelle Werkstoffe

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Metadaten
Autor*innen:Werner ÖsterleORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):VDEh-Arbeitskreis, Elektronenmicroskopie
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Veranstaltung:VDEh-Arbeitskreis, Elektronenmicroskopie
Veranstaltungsort:Duisburg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2002-11-07
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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