• Treffer 2 von 5
Zurück zur Trefferliste

Vergleich von Matrix-Korrekturprogrammen für die quantitative Röntgenmikroanalyse

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Harald Hantsche, Gerhard Kempf
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen : BEDO
Jahr der Erstveröffentlichung:1982
Verlag:Remy
Verlagsort:Münster
Jahrgang/Band:15
Erste Seite:99
Letzte Seite:114
ISSN:0340-3815
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:ZM 54/29:1982/172
Datum der Freischaltung:02.06.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.