Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 2 von 6
Zurück zur Trefferliste

Advanced analytical scanning electron microscopy for the characterization of nanoparticles

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Johannes Mielke
Koautor*innen:Steffi Rades, Erik Ortel, Thomas Wirth, T. Salge, Wolfgang Unger, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):EuoNanoForum 2015
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:EuoNanoForum 2015
Veranstaltungsort:Riga, Lativa
Beginndatum der Veranstaltung:2015-06-10
Enddatum der Veranstaltung:2015-06-12
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.