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Interlaboratory comparison (Round Robin) of the application of the Rietveld method to quantitative phase analysis by X-ray and neutron diffraction

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Autor*innen:Burkhard Peplinski, Dietrich Schultze, Klaus-Jürgen Wenzel
Persönliche Herausgeber*innen:R. Delhez
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the seventh European powder diffraction conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Herausgeber (Institution):EPDIC
Verlag:Trans Tech Publications
Verlagsort:Uetikon-Zürich
Ausgabe/Heft:378-381/1
Erste Seite:124
Letzte Seite:129
Freie Schlagwörter:Interlaboratory comparison; Quality assurance; Quantitative phase analysis; Reference materials; Rietveld analysis; Round Robin; Silicon nitride; Statistical tests
Veranstaltung:7th European Powder Diffraction Conference
Veranstaltungsort:Barcelona, Spain
Beginndatum der Veranstaltung:2000-05-20
Enddatum der Veranstaltung:2000-05-23
ISSN:0255-5476
ISBN:0-87849-886-9
Bemerkung:
Serientitel: Materials science forum – Series title: Materials science forum
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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