Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 15 von 24
Zurück zur Trefferliste

Structural characterization of a coarse-grained transparent silicon carbide powder by a combination of powder diffraction techniques

  • Diffraction of hard synchrotron radiation as well as constant-wavelength and time-of-flight neutron diffraction were used for the structural characterization of a silicon carbide powder having extremely low levels of chemical impurities, high perfection of the crystalline lattice and a grain size of up to 150 µm. The presence of three polytypes was ascertained and the ratios of their mass fractions were determined to be w15R : w6H = 0.002,3(8) and w4H : w6H = 0.000,6(2).

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Burkhard Peplinski, A.N. Fitch, A. Evans, R.M. Ibberson, D.M. Többens, L.M.D. Cranswick, Ilona Dörfel, Franziska EmmerlingORCiD, Ralf MatschatORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Zeitschrift für Kristallographie / Supplement issue
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Kristallographie
Verlag:Oldenbourg
Verlagsort:München
Jahrgang/Band:30 EPDIC 2008
Erste Seite:61
Letzte Seite:66
Freie Schlagwörter:Phase quantification; Polytypes; Reference material; Silicon carbide
DOI:10.1524/zksu.2009.0009
ISSN:0930-486X
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:03.12.2009
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.