Structural characterization of a coarse-grained transparent silicon carbide powder by a combination of powder diffraction techniques
- Diffraction of hard synchrotron radiation as well as constant-wavelength and time-of-flight neutron diffraction were used for the structural characterization of a silicon carbide powder having extremely low levels of chemical impurities, high perfection of the crystalline lattice and a grain size of up to 150 µm. The presence of three polytypes was ascertained and the ratios of their mass fractions were determined to be w15R : w6H = 0.002,3(8) and w4H : w6H = 0.000,6(2).
Autor*innen: | Burkhard Peplinski, A.N. Fitch, A. Evans, R.M. Ibberson, D.M. Többens, L.M.D. Cranswick, Ilona Dörfel, Franziska EmmerlingORCiD, Ralf MatschatORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Zeitschrift für Kristallographie / Supplement issue |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2009 |
Herausgeber (Institution): | Deutsche Gesellschaft für Kristallographie |
Verlag: | Oldenbourg |
Verlagsort: | München |
Jahrgang/Band: | 30 EPDIC 2008 |
Erste Seite: | 61 |
Letzte Seite: | 66 |
Freie Schlagwörter: | Phase quantification; Polytypes; Reference material; Silicon carbide |
DOI: | 10.1524/zksu.2009.0009 |
ISSN: | 0930-486X |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 03.12.2009 |