Beitrag der LA-ICP-MS zur Charakterisierung von Kupfer-Referenzmaterialien
MetadatenAutor*innen: | Heike Traub |
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Koautor*innen: | Michael Czerwensky, Ralf MatschatORCiD, Heinrich Kipphardt, Ulrich PanneORCiD |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2008 |
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Veranstaltung: | 21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse |
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Veranstaltungsort: | Dresden, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2008-09-17 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2008-09-19 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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