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Scanning Force Microscopy (SFM) with additional mechanical and electrical materials contrasts

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Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Seminar of the Department of Materials and Interfaces, Weizmann Institute of Science
Jahr der Erstveröffentlichung:1997
Veranstaltung:Seminar of the Department of Materials and Interfaces, Weizmann Institute of Science
Veranstaltungsort:Rehovot, Israel
Beginndatum der Veranstaltung:1997-02-16
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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