Methoden zur Messung elekrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 3. Mikrosymposium: Elektronenmikroskopie in der Materialforschung - Rasterkraftmikroskopie an Polymeren an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Veranstaltung: | 3. Mikrosymposium: Elektronenmikroskopie in der Materialforschung - Rasterkraftmikroskopie an Polymeren an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg |
Veranstaltungsort: | Merseburg, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-05-31 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |