• Treffer 10 von 26
Zurück zur Trefferliste

Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie

  • In diesem Beitrag wird eine Methode zur Charakterisierung von offenen Oberflächenrissen mittels aktiver Thermografie präsentiert. Hierzu wird die Probe ortsfest lokal mit einem Laser erwärmt und die resultierende Oberflächentemperatur mittels Infrarotkamera aufgenommen. Bei einer ungestörten Probe ergibt sich ein rotationssymmetrisches Temperaturprofil. Betrachtet man hingegen einen Bereich mit einem Oberflächenriss, so kommt es durch die Störung des lateralen Wärmetransports zu einer unsymmetrischen Temperaturverteilung. Durch die quantitative Analyse diese Unsymmetrie lassen sich Aussagen über geometrische Parameter des Risses treffen.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Joachim Schlichting, Guram N. Kervalishvili, Christiane MaierhoferORCiD, Marc Kreutzbruck
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):DGZfP-Jahrestagung 2010
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP)
Verlagsort:Berlin
Ausgabe/Heft:DGZfP-BB 122 (Mi.1.C.2)
Erste Seite:1
Letzte Seite:8
Veranstaltung:DGZfP-Jahrestagung 2010
Veranstaltungsort:Erfurt, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2010-05-10
Enddatum der Veranstaltung:2010-05-12
ISBN:978-3-940283-26-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.