MetadatenAutor*innen: | Michael Griepentrog, Uwe Beck |
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Persönliche Herausgeber*innen: | J. Schulte, X. Niu |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Herausgeber (Institution): | Shanghai Nanotechnology Promotion Centre |
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Verlag: | Asia Pacific Nanotechnology Forum |
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Verlagsort: | Sydney |
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Erste Seite: | 71 |
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Letzte Seite: | 83 |
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Freie Schlagwörter: | Certified reference materials; Destructive testing; Film thickness; Mechanical properties; Naoindentation; Non-destructive testing; Surface acoustic waves |
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Veranstaltung: | 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum |
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Veranstaltungsort: | Shanghai, China |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-12-09 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-12-12 |
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ISBN: | 0-97-57537-1-1 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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