Ellipsometric characterization of doped SnOx layer for gas sensors based on SPREE (surface plasmon resonance enhanced ellipsometry).
MetadatenAutor*innen: | Daniel Fischer |
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Koautor*innen: | Andreas Hertwig, Uwe Beck, M. Kormunda, N. Esser |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | International conference on spectroscopic ellipsometry (ICSE 7) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
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Veranstaltung: | International conference on spectroscopic ellipsometry (ICSE 7) |
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Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2016-06-06 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2016-06-10 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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