Modifying single-crystalline silicon by femtosecond laser pulses: an analysis by micro Raman spectroscopy, scanning laser microscopy and atomic force microscopy
- The surface modification of single-crystalline silicon induced by single 130 femtosecond (fs) Ti:sapphire laser pulses (wavelength 800 nm) in air is investigated by means of micro Raman spectroscopy (?-RS), atomic force microscopy and scanning laser microscopy. Depending on the laser fluence, in some regions the studies indicate a thin amorphous top-layer as well as ablated and recrystallized zones. The single-pulse threshold fluences for melting, ablation and polycrystalline recrystallization are determined quantitatively. Several different topographical surface structures (rims and protrusions) are found. Their formation is discussed in the context of recent studies of the laser irradiation of silicon. In combination with a thin-film optical model, the thickness of the amorphous layer is determined by two independent and nondestructive optical methods to be in the order of several 10 nm.
MetadatenAutor*innen: | Jörn BonseORCiD, Klaus-Werner Brzezinka, A.J. Meixner |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied surface science |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Verlag: | North-Holland |
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Verlagsort: | Amsterdam |
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Jahrgang/Band: | 221 |
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Ausgabe/Heft: | 1-4 |
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Erste Seite: | 215 |
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Letzte Seite: | 230 |
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Freie Schlagwörter: | Atomic force microscopy; Femtosecond laser ablation; Laser scanning microscopy; Raman spectroscopy; Silicon |
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DOI: | 10.1016/S0169-4332(03)00881-X |
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ISSN: | 0169-4332 |
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ISSN: | 1873-5584 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Bibliotheksstandort: | ZA 83 |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 04.03.2004 |
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