MetadatenAutor*innen: | Uwe Ewert, K. Bavendiek, J. Robbins, Uwe ZscherpelORCiD, C. Bueno, T. Gordon, D. Mishra |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Materials evaluation |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
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Verlag: | Society for Nondestructive Testing |
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Verlagsort: | Columbus, Ohio |
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Jahrgang/Band: | 68 |
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Ausgabe/Heft: | 2 |
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Erste Seite: | 163 |
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Letzte Seite: | 168 |
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Freie Schlagwörter: | Bad pixels; CNR; Compensation principles; Contrast sensitivity; Digital detector arrays; Film replacement; Radiography; SNR; Spatial resolution; Standards |
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ISSN: | 0025-5327 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 29.11.2010 |
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