Ellipsometrie als Referenzverfahren: Charakterisierung von Referenzmaterialien - Validierung von Präparations- und Prüfverfahren - Qualitätssicherung für funktionelle Oberflächen
MetadatenAutor*innen: | Uwe Beck |
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Koautor*innen: | Andreas HertwigORCiD, Marion Männ, Matthias Weise |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 3. Workshop "Ellipsometrie" |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Veranstaltung: | 3. Workshop "Ellipsometrie" |
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Veranstaltungsort: | Stuttgart, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-02-23 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-02-25 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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