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Ellipsometrie als Referenzverfahren: Charakterisierung von Referenzmaterialien - Validierung von Präparations- und Prüfverfahren - Qualitätssicherung für funktionelle Oberflächen

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Metadaten
Autor*innen:Uwe Beck
Koautor*innen:Andreas HertwigORCiD, Marion Männ, Matthias Weise
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):3. Workshop "Ellipsometrie"
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:3. Workshop "Ellipsometrie"
Veranstaltungsort:Stuttgart, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2004-02-23
Enddatum der Veranstaltung:2004-02-25
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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