Deutsch
Open Access
Home
Search
Browse
Publish
FAQ
Schließen
Author(s)
All words
At least one word
None of the words
Title
All words
At least one word
None of the words
Additional Person(s)
All words
At least one word
None of the words
Referee(s)
All words
At least one word
None of the words
Abstract
All words
At least one word
None of the words
Fulltext
All words
None of the words
Refine
Author
Galke, Christian
(3)
Grabow, M.
(3)
Vierhaus, Heinrich Theodor
(3)
Year of publication
2003
(3)
Document Type
Conference Proceeding
(3)
Language
English
(2)
German
(1)
Institute
FG Technische Informatik
(3)
3
search hits
1
to
3
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sort by
Year
Year
Title
Title
Author
Author
Kompaktierung von Testmustern für den Test von SoCs mittels einer Testprozessor-Architektur
(2003)
Galke, Christian
;
Grabow, M.
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment
(2003)
Galke, Christian
;
Grabow, M.
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Perspectives of combining online and offline test technology for dependable systems on a chip
(2003)
Galke, Christian
;
Grabow, M.
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
1
to
3
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.