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Efficient global sensitivity analysis for silicon line gratings using polynomial chaos

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Metadaten
Author:Nando Farchmin, Martin Hammerschmidt, Philipp-Immanuel Schneider, Matthias Wurm, Markus Bär, Sebastian Heidenreich
Document Type:Article
Parent Title (English):Proc. SPIE
Volume:11057
First Page:110570J
Year of first publication:2019
DOI:https://doi.org/10.1117/12.2525978
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