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Reduced basis method for fast and robust simulation of electromagnetic scattering problems

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Metadaten
Author:Jan Pomplun, Frank Schmidt
Document Type:In Proceedings
Parent Title (English):Numerical Methods in Optical Metrology
Volume:7390
First Page:73900I
Publisher:Proc. SPIE
Year of first publication:2009
DOI:https://doi.org/10.1117/12.827588
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