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GIXRF and machine learning as metrological tools for shape and element sensitive reconstructions of periodic nanostructures

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Metadaten
Author:Anna Andrle, Philipp Hönicke, Grzegorz Gwalt, Philipp-Immanuel Schneider, Yves Kayser, Frank Siewert, Victor Soltwisch
Document Type:Article
Parent Title (English):Proc. SPIE
Volume:11611
First Page:116110R
Year of first publication:2021
DOI:https://doi.org/10.1117/12.2586082
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