- Die Modenlinienspektroskopie kann zur hochpräzisen Charakterisierung von Polymerschichten bezüglich des Brechungsindex verwendet werden. Das vorliegende Manuskript behandelt die Theorie der Modenlinienspektroskopie und beginnt dabei mit den theoretischen Grundlagen eines planaren Wellenleiters, die zum Verständnis der Modenlinienspektroskopie notwendig sind. Die hier präsentierten expliziten Herleitungen können genutzt werden, um die Modenlinienspektroskopie so zu modifizieren, dass auch die Messung des Pockelseffektes möglich ist. Eine Anwendungsmöglichkeit soll in der zukünftigen Bestimmung des Pockelskoeffizienten bestehen, der für die Weiterentwicklung von polymerbasierten elektrooptischen Modulatoren benötigt wird. Zudem werden der Aufbau und die experimentelle Herangehensweisen beschrieben und die Brechungsindexbestimmung wird exemplarisch am Beispiel einer Wirt-Gast-Polymerschicht demonstriert.
- M-Line spectroscopy can be used for high precision measurements of polymer layers. The present manuscript deals with the theory of m-line spectroscopy and thus begins with the theoretical background of a planar waveguide structure, which is necessary for a deeper understanding of m-line spectroscopy. The explicit derivations presented here can be used to modify the m-line spectroscopy in such a way that the measurement of the Pockels effect is also possible. One application is to be obtained in the future configuration of the Pockels coefficients, which is needed to optimize electro-optical modulators. In addition, the set-up and the experimental approach are described. Finally, a host-guest polymer layer is experimentally characterized in terms of the refractive index.