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    <publishedYear>2005</publishedYear>
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    <title language="deu">Photoscanning-Methode zur nichtinvasiven Charakterisierung fabrikationsbedingter Defekte in Solarzellen</title>
    <abstract language="deu">Im folgenden Beitrag wird ein Verfahren zur nichtinvasiven Charakterisierung fabrikationsbedingter Defekte in Solarzellen, wie beispielsweise unterbrochene Fingerkontakte oder Risse im Solarmaterial, vorgestellt. Es werden Weiterentwicklungsansätze aufgezeigt, die zum Ziel haben, das Verfahren auf die einfache und schnelle Erkennbarkeit von Rissen zu optimieren, und es werden erste Untersuchungsergebnisse präsentiert.</abstract>
    <parentTitle language="deu">Wissenschaftliche Beiträge 2005</parentTitle>
    <identifier type="urn">urn:nbn:de:kobv:526-opus4-4346</identifier>
    <identifier type="doi">10.15771/0949-8214_2005_1_21</identifier>
    <identifier type="issn">0949-8214</identifier>
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    <licence>Creative Commons - CC BY-NC-ND 3.0 DE - Namensnennung - Nicht-kommerziell - Keine Bearbeitung 3.0 Deutschland</licence>
    <author>Denny Ragusch</author>
    <author>Jörn Beyer</author>
    <author>Dietmar Drung</author>
    <author>Michael Jergovic</author>
    <author>Siegfried Rolle</author>
    <author>Thomas Schurig</author>
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    <collection role="institutes" number="">Fachbereich Ingenieurwesen / Wirtschaftsingenieurwesen (bis 8/2014)</collection>
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    <thesisPublisher>Technische Hochschule Wildau</thesisPublisher>
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