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Validation and calibration of Electrothermal Device Models Using Infrared Laser Probing Techniques (1998)

Thalhammer, R. ; Fuerboeck, C. ; Seliger, Norbert ; Gornik, E. ; Wachutka, G.

Characterisation of Semiconductor Devices by Infrared Laser Interferometry (1998)

Seliger, Norbert ; Gornik, E. ; Pogany, D. ; Fuerboeck, C. ; Habas, P. ; Thalhammer, R. ; Stoisiek, M.

Internal characterization of IGBTs using the backside laser probing technique - Interpretation of measurement by numerical simulation (1998)

Thalhammer, R. ; Fuerboeck, C. ; Seliger, Norbert ; Deboy, G. ; Gornik, E. ; Wachutka, G.

Lokale Temperaturbestimmung in Insulated Gate Bipolar Transistoren (IGBTs) mittels Lasersondentechnik (1997)

Fuerboeck, C. ; Thalhammer, R. ; Seliger, Norbert ; Pogany, D. ; Deboy, G. ; Wachutka, G. ; Gornik, E.

Internal Characterisation of IGBTs Using the Backside Laserprober Technique (1999)

Fürböck, C. ; Thalhammer, R. ; Litzenberger, M. ; Seliger, Norbert ; Pogany, D. ; Gornik, E. ; Wachutka, G.

A differential backside laserprobing technique for the investigation of the lateral temperature distribution in power devices (1999)

Fürböck, C. ; Thalhammer, R. ; Litzenberger, M. ; Seliger, Norbert ; Pogany, D. ; Gornik, E. ; Wachutka, G.

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