Interferometric temperature mapping during ESD stress and failure analysis of smart power technology ESD protection devices

Export metadata

Metadaten
Author:C. Fürböck, D. Pogany, M. Litzenberger, E. Gornik, Norbert SeligerORCID, H. Gossner, T. Müller-Lynch, M. Stecher, W. Werner
Parent Title (English):Journal of Electrostatics
Document Type:Article (peer reviewed)
Language:English
Publication Year:2000
Release Date:2023/06/15
Tag:ESD; smart power device
Volume:49
First Page:195
Last Page:213
Peer reviewed:Ja
faculties / departments:Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Dewey Decimal Classification:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 60 Technik / 600 Technik, Technologie
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.