Quality Assurance and Regularity of SMC-Materials
| Author: | Michael Schemme, Gottfried Wilhelm Ehrenstein |
|---|---|
| Parent Title (English): | Tagungsband 50th SPI Conference |
| Place of publication: | Cincinnati |
| Document Type: | Conference Publication |
| Language: | English |
| Publication Year: | 1995 |
| Release Date: | 2020/09/07 |
| Tag: | FVK |
| Dewey Decimal Classification: | 6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
