Worst Case Test Conditions for Defect Localization in DRAM Devices
Author: | Martin Versen |
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Parent Title (English): | Microelectronics Seminar of the ISTFA 2011 |
Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | English |
Publication Year: | 2011 |
Tag: | DRAM Devices; Microelectronics |
faculties / departments: | Fakultät für Ingenieurwissenschaften |
Dewey Decimal Classification: | 6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |