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Worst Case Test Conditions for Defect Localization in DRAM Devices

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Metadaten
Author:Martin Versen
Parent Title (English):Microelectronics Seminar of the ISTFA 2011
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Publication Year:2011
Tag:DRAM Devices; Microelectronics
faculties / departments:Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Dewey Decimal Classification:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten