Quality Assurance and Regularity of SMC-Materials
Author: | Michael Schemme, Gottfried Wilhelm Ehrenstein |
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Parent Title (English): | Tagungsband 50th SPI Conference |
Place of publication: | Cincinnati |
Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | English |
Publication Year: | 1995 |
Tag: | FVK |
Dewey Decimal Classification: | 6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |