TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Biometrie T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_9 SN - 2627-5317 SP - 309 EP - 378 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Deskriptive Statistik und explorative Datenanalyse T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_2 SN - 2627-5317 SP - 29 EP - 104 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Stochastische Differenzialrechnung T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_7 SN - 2627-5317 SP - 253 EP - 277 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Punktschätzung T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_3 SN - 2627-5317 SP - 105 EP - 142 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Simulation T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_11 SN - 2627-5317 SP - 405 EP - 429 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Quantifizierung und Bewertung von Risiken T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_1 SN - 2627-5317 SP - 1 EP - 27 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Hypothesentests T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_4 SN - 2627-5317 SP - 143 EP - 170 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Lineare und verallgemeinerte lineare Regression T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_5 SN - 2627-5317 SP - 171 EP - 211 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Credibility-Modelle T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_10 SN - 2627-5317 SP - 379 EP - 404 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Zeitreihenanalyse T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_8 SN - 2627-5317 SP - 279 EP - 307 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER - TY - CHAP A1 - Becker, Torsten A1 - Herrmann, Richard A1 - Heumann, Christian A1 - Pilz, Stefan A1 - Sandor, Viktor A1 - Schäfer, Dominik A1 - Wellisch, Ulrich T1 - Stochastische Prozesse und Modelle T2 - Statistik und ihre Anwendungen - Stochastische Risikomodellierung und statistische Methoden Y1 - 2024 SN - 9783662695319 U6 - https://doi.org/10.1007/978-3-662-69532-6_6 SN - 2627-5317 SP - 213 EP - 252 PB - Springer Berlin Heidelberg CY - Berlin, Heidelberg ER -