TY - CHAP A1 - Schröder, E. A1 - Schanda, Ulrich T1 - Untersuchungen zur Sprachverständlichkeit als raumakustischer Parameter von Mehrpersonenbüros T2 - Deutsche Gesellschaft für Akustik e.V. DAGA KW - Schallmesstechnik KW - Raumakustik Y1 - 2011 ER - TY - CHAP A1 - Schutter, Sabina T1 - Das legitime Kind zwischen Konstruktion und Materialität T2 - Kindheitsbilder und die Akteure generationaler Arrangements N2 - Der vorliegende Beitrag befasst sich anhand eines Bundesverfassungsgerichtsurteils zu »heimlichen Vaterschaftstests« mit Fragen nach der Materialität von Kindheit. Die rechtliche Verwertbarkeit eines Vaterschaftstests für die Vaterschaftsanfechtung, beziehungsweise die das mögliche Anrecht auf Kenntnis der Abstammung des eigenen Kindes verbindet naturalisierende Vorstellungen von Eltern-Kind-Beziehungen mit rechtlichen Regelungen. So entsteht eine Wechselwirkung: das legitime Kind materialisiert sich einerseits in der Idee der Fortsetzung des Selbst als das »genetisch eigene Kind« und andererseits in der Idee des rechtmäßigen Kindes, das durch die genetische Abstammung begründet wird. Genetische Informationen tragen damit nicht nur zur Naturalisierung der Vorstellung von »eigenen« Kindern bei, sie dienen auch als naturalisierende Begründung der rechtmäßigen Vater-Kind-Beziehung. Wie nimmt die genetische Wahrheit diesen Status in der Legitimation einer Beziehung ein und welchen Beitrag kann diese Verfasstheit für die Beantwortung der Frage nach der Materialität von Kindheit leisten? Welche Form erlangt Kindheit in der Konzeption eines Generationenverhältnisses, das auf biologische Abstammung fundiert wird und in welcher Beziehung steht diese Konzeption zu ihrer rechtlichen Normierung? KW - Kind Y1 - 2011 UR - https://doi.org/10.1007/978-3-531-92713-8_4 SP - 59 EP - 68 PB - VS Verlag für Sozialwissenschaften CY - Wiesbaden ER - TY - BOOK A1 - Schutter, Sabina T1 - "Richtige" Kinder: Von heimlichen und folgenlosen Vaterschaftstests T3 - Kindheit als Risiko und Chance N2 - Wie wird Vaterschaft ermittelt? Das Bundesverfassungsgerichtsurteil zu so genannten heimlichen Vaterschaftstests hat einen Anspruch auf die genetische Abstammungsklärung verankert. Ziel dieser Klärung ist es für Väter, festzustellen, ob ihr rechtliches Kind auch ihr biologisches Kind ist. Dem Urteil folgte ein Gesetz zur Klärung der Abstammung. Das neue Gesetz schafft den „stets sicheren“ Vater. Wie ist es vor diesem Hintergrund um die Sicherheit des Kindes bestellt? In welchem Verhältnis stehen Vaterrechte und Kinderrechte? Diesen Fragen geht Sabina Schutter anhand eines diskursanalytischen Verfahrens nach. KW - Vaterschaft Y1 - 2011 SN - 978-3-531-18059-5 PB - VS Verlag für Sozialwissenschaften CY - Wiesbaden ER - TY - RPRT A1 - Seidlmeier, Heinrich T1 - Vom Prozessmodell „automatisch“ zum ausführbaren Workflow mit der ARIS Process Governance KW - ARIS KW - Process Governance KW - Prozessoptimierung Y1 - 2018 ER - TY - CHAP A1 - Steidl, Stefan A1 - Riedhammer, Korbinian A1 - Bocklet, Tobias A1 - Hönig, Florian A1 - Nöth, Elmar T1 - Java Visual Speech Components for Rapid Application Development of GUI based Speech Processing Applications T2 - INTERSPEECH 2011, 12th Annual Conference of the International Speech Communication Association, Florence, Italy, August 2011. N2 - In this paper, we describe a new Java framework for an easy and efficient way of developing new GUI based speech processing applications. Standard components are provided to display the speech signal, the power plot, and the spectrogram. Furthermore, a component to create a new transcription and to display and manipulate an existing transcription is provided, as well as a component to display and manually correct external pitch values. These Swing components can be easily embedded into own Java programs. They can be synchronized to display the same region of the speech file. The object-oriented design provides base classes for rapid development of own components. KW - Speech Processing Applications KW - Java KW - Graphical User Interfaces (GUI) KW - Rapid Application Development (RAD) Y1 - 2011 SP - 3257 EP - 3260 ER - TY - JOUR A1 - Stromeck-Faderl, A. A1 - Pentlehner, Dominik A1 - Kensy, U. A1 - Dick, B. T1 - High-resolution electronic spectroscopy of the BODIPY chromophore in supersonic beam and superfluid helium droplets JF - CHEM-PHYS-CHEM, Special Issue: Laser Chemistry and Spectroscopy N2 - We present the fluorescence excitation and dispersed emission spectra of the parent compound of the boron dipyrromethene (BODIPY) dye class measured in a supersonic beam and isolated in superfluid helium nanodroplets. The gas‐phase spectrum of the isolated molecules displays many low‐frequency transitions that are assigned to a symmetry‐breaking mode with a strongly nonharmonic potential, presumably the out‐of‐plane wagging mode of the BF2 group. The data are in good agreement with transition energies and Franck–Condon factors calculated for a double minimum potential in the upper electronic state. The corresponding transitions do not appear in the helium droplet. This is explained with the quasi‐rigid first layer of helium atoms attached to the dopant molecule by van der Waals forces. The spectral characteristics are those of a cyanine dye rather than that of an aromatic chromophore. KW - Helium nanodroplets KW - Electronic spectroscopy KW - BODIPY Chromophore Y1 - 2011 IS - 12 ER - TY - CHAP A1 - Versen, Martin T1 - DRAM Failure Analysis and Defect Localization Techniques, Microelectronics Failure Analysis T2 - Desk Reference Sixth Edition N2 - Comprehensive guide to the process and test methods used for electronic device failure analysis. Contains dozens of articles—contributed by industry experts—covering a wide range of topics involving the failure analysis of microelectronics. It places the most important and up-to-date information on this subject at your fingertips.  Topic coverage includes:  Failure Analysis Process Flow Failure Verification  Failure Modes and Failure Classification  Special Devices (MEMS, Optoelectronics, Passives)  Fault Localization Techniques: Package Level (NDT)  Die Level (Depackaging, Photon Emission, Microthermography, Laser-Based Methods, Particle Beam Methods)  Deprocessing & Imaging Techniques: Deprocessing  General Imaging Techniques  Local Deprocessing & Imaging  Circuit Edit and Design Modification  Material Analysis Techniques  Reference Information: Important Topics for Semiconductor Devices  Failure Analysis Techniques Roadmap  Failure Analysis Operations and Management  Appendices: Failure Analysis Terms, Definitions, and Acronyms  Industry Standards KW - Microelectronics KW - DRAM Failure Analysis Y1 - 2018 PB - ASM International CY - Ohio ER - TY - CHAP A1 - Versen, Martin T1 - Worst Case Test Conditions for Defect Localization in DRAM Devices T2 - Microelectronics Seminar of the ISTFA 2011 KW - DRAM Devices KW - Microelectronics Y1 - 2018 ER - TY - CHAP A1 - Versen, Martin A1 - Shankar, S. A1 - Enimidisetty, S. A1 - Bernhardt, A. A1 - Srinivasan, B. T1 - Setup for Locating PV-Cell Surface Defects Through ISC Measurements T2 - Proceedings of the 37th ISTFA 2011 KW - Photovoltaik KW - PV-Cell defects KW - ISC Measurements Y1 - 2018 ER - TY - CHAP A1 - Weidner, Karl A1 - Kaspar, Michael A1 - Seliger, Norbert T1 - Innovative Leistungsmodule T2 - Produktion von Leiterplatten und Systemen (PLUS) KW - Leistungsmodule Y1 - 2011 SP - 1408 EP - 1412 ER -