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Time-resolved x-ray diffraction study of ultrafast acoustic phonon dynamics in Ge/Si-heterostructures

  • Using time-resolved x-ray diffraction the ultafast strain dynamics in fs-laserexcited Ge/Si-heterostructures has been studied. A fluence dependent, anharmonic damping of the impulsively generated acoustic phonons and vibrational transport across the buried Ge/Si-interface are observed.

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Metadaten
Author:Klaus Sokolowski-Tinten, Michael Horn-von Hoegen, D. von der Linde, Andrea Cavalleri, C. W. Siders, F. L. H. Brown, Csaba Tóth, Jeff A. Squier, C. P. J. Barty, K. R. Wilson, Martin KammlerORCiDGND
URL / DOI:https://opg.optica.org/abstract.cfm?uri=UP-2000-MF43
Parent Title (English):International Conference on Ultrafast Phenomena , 9 July 2000, Charleston
Publisher:Optica
Document Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2000
Release Date:2022/11/24
Tag:Acoustic Phonon; Acoustic Transmission; Carrier Diffusion; Homogenous Expansion; Lattice Anharmonicity
Institutes:Fakultät Angewandte Natur- und Kulturwissenschaften
Fakultät Angewandte Natur- und Kulturwissenschaften / Labor Nanoanalytik und Halbleiterchemie (Nanochem)
Publication:Externe Publikationen
research focus:Produktion und Systeme
Licence (German):Keine Lizenz - Es gilt das deutsche Urheberrecht: § 53 UrhG
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