TY - CHAP A1 - Braun, Jürgen A1 - Mottok, Jürgen A1 - Miedl, Christian A1 - Greyer, D. A1 - Minas, Mark T1 - Fail-Safe und Fault-Tolerant Mechanismen T2 - Proceedings of the 3rd Embedded Software Engineering Congress, 7. bis 9. Dezember 2010, Sindelfingen Y1 - 2010 SP - 378 EP - 386 ER -