TY - CHAP A1 - Declerq, Michel A1 - Clément, F. A1 - Schubert, Martin J. W. A1 - Harb, Adnan A1 - Dutoit, Michel T1 - Design and Optimization of High-Voltage CMOS Devices Compatible wih a Standard 5V CMOS Technology T2 - Proceedings of IEEE Custom Integrated Circuits Conference, May 9-12 1993, San Diego, CA, USA N2 - High-voltage n- and p-MOSFETs fully compatible with a standard 5 V CMOS technology have been designed, optimized, and fabricated. No process changes are required. By modifying the logical equations generating one of the physical masks from the design masks, a p-type buffer region for the high-voltage p-MOS was easily implemented. This modification does not affect the low-voltage part of the circuits. These high-voltage devices have been used successfully as output drivers in semicustom arrays, and as building blocks for custom low- to high-voltage output interfaces. Aspects of reliability, device protection, and circuit design techniques are addressed. Y1 - 1993 SN - 0-7803-0826-3 U6 - https://doi.org/10.1109/CICC.1993.590766 SP - 24.6.1 EP - 24.6.4 ER - TY - CHAP A1 - Declerq, Michel A1 - Schubert, Martin J. W. A1 - Clément, F. T1 - 5V-to-75V CMOS Output Interfaces T2 - Proceedings of the1993 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), Feb. 24-26 1993, San Francisco, CA, USA N2 - A family of CMOS low- to high-voltage output interface circuits based on a standard, unmodified low-voltage CMOS technology is described. Using only thin-oxide high-voltage (HV) devices with reduced V/sub GS/ (gate-to-source voltage) swing, it makes use of level-shift techniques to meet the constraints on the gate control signals. These static circuits permit the full output voltage swing of V/sub DDH/, while keeping the V/sub GS/ swing of the output devices within the safety limits, including during HV supply transients. Using a standard 2- mu m n-well CMOS technology, reliable, reproducible V/sub DS/ breakdown voltages as high as 120 V and 80 V have been obtained for HV-nMOS and HV-pMOS devices, respectively.< > Y1 - 1993 U6 - https://doi.org/10.1109/ISSCC.1993.280014 SP - 162 EP - 163 ER - TY - PAT A1 - Declerq, Michel A1 - Schubert, Martin J. W. T1 - Circuit Intermédiaire entre un Circuit Logique à Basse-Tension et un Etage de Sortie à Haute-Tension Réalisés dans une Technologie CMOS Standard N2 - La présente invention concerne un circuit intermédiaire entre un circuit logique a basse tension et un étage de sortie à haute tension réalisés dans une technologie CMOS standard. L'étage de sortie (20) comporte deux transistors respectivement à canal N et à canal P, réalisés selon une technologie CMOS standard. Le circuit intermédiaire comporte un translateur de niveau de tension (21) couplé entre un circuit logique d'entrée SL et ledit étage de sortie (20). Ce translateur de niveau de tension (21) est réalisé selon une technologie CMOS standard et est constitué d'au moins deux blocs de base identiques formant des miroirs de tension interconnectés de façon croisée. Ce circuit est utilisé pour commander des transducteurs, des écrans plasma et des actionneurs électromécaniques. Y1 - 1992 ER -