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Autor*in
Lehmann, Matthias (2)
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Erscheinungsjahr
2020
(1)
2018
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(1)
Konferenzveröffentlichung
(1)
Sprache
Englisch
(2)
Volltext vorhanden
nein
(2)
Gehört zur Bibliografie
ja
(2)
Schlagworte
SiL/HiL
(1)
Fachbereich/Einrichtung
Fachbereich - Elektro- & Informationstechnik (2)
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Autor*in
Autor*in
Realistic Image Degradation with Measured PSF
(2018)
Wittpahl, Christian
;
Zakour, Hatem Ben
;
Lehmann, Matthias
;
Braun, Alexander
Simulating tests to test simulation
(2020)
Mueller, Patrick
;
Lehmann, Matthias
;
Braun, Alexander
1
bis
2
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