Classification robustness to common optical aberrations

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Author:Patrick Müller, Alexander BraunORCiD, Margret KeuperORCiD
Fachbereich/Einrichtung:Hochschule Düsseldorf / Fachbereich - Elektro- & Informationstechnik
Document Type:Conference Proceeding
Year of Completion:2023
Language of Publication:English
Publisher:IEEE
Parent Title (English):2023 IEEE/CVF International Conference on Computer Vision Workshops (ICCVW)
Page Number:12
First Page:3634
Last Page:3645
DOI:https://doi.org/10.1109/ICCVW60793.2023.00391
GND Keyword:Maschinelles Sehen; Abbildungsfehler; Neuronales Netz; Benchmarking
Dewey Decimal Classification:0 Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke / 00 Informatik, Wissen, Systeme / 006 Spezielle Computerverfahren
Licence (German):keine Lizenz - nur Metadaten
Release Date:2025/04/15
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