TY - CHAP A1 - Rommel, Alexander A1 - Hauf, Dominik A1 - Rusch, Tobias A1 - Kerber, Florian A1 - Rötting, Matthias T1 - Evaluation eines auf Augmented Reality basierenden Werkerführungssystems T2 - Technologie und Bildung in hybriden Arbeitswelten : Dokumentation des 68. Arbeitswissenschaftlichen Kongresses KW - digitale Assistenz KW - Werkerassistenzsystem KW - Augmented Reality KW - Industrie 4.0 KW - CAD Y1 - 2022 SN - 978-3-936804-31-7 N1 - Beitrag: 68. Arbeitswissenschaftlicher Kongress, Frühjahrskongress 2022, Magdeburg, Deutschland, 02.03.2022 - 04.03.2022 VL - 39 PB - GfA-Press CY - Sankt Augustin ER - TY - CHAP A1 - Rusch, Tobias A1 - Sen, Sumona A1 - Stelzle, Tobias A1 - Rommel, Alexander A1 - Kerber, Florian T1 - Simulationsbasierte Optimierungsmöglichkeiten von menschzentrierten Montagearbeitsplätzen mit Hilfe digitaler Assistenz T2 - Technologie und Bildung in hybriden Arbeitswelten : Dokumentation des 68. Arbeitswissenschaftlichen Kongresses KW - human-factors KW - Mensch-Roboter-Kollaboration KW - Simulation KW - Montage KW - Produktivität Y1 - 2022 SN - 978-3-936804-31-7 N1 - Beitrag: 68. Arbeitswissenschaftlicher Kongress, Frühjahrskongress 2022, Magdeburg, Deutschland, 02.03.2022 - 04.03.2022 VL - 39 PB - GfA-Press CY - Sankt Augustin ER - TY - CHAP A1 - Rommel, Alexander A1 - Hauf, Dominik A1 - Kerber, Florian ED - Dörksen, Helene ED - Scanzio, Stefano ED - Jasperneite, Jürgen ED - Wisniewski, Lukasz ED - Fung Man, Kim ED - Sauter, Thilo ED - Seno, Lucia ED - Trsek, Henning ED - Vyatkin, Valeriy T1 - Development of a CAD-based Automated Worker Guidance System T2 - 2023 IEEE 21st International Conference on Industrial Informatics (INDIN) KW - augmented reality KW - CAD KW - assistance systems KW - woker guidance KW - PDM KW - ERP KW - PLM KW - inustry 4.0 Y1 - 2023 SN - 978-1-6654-9313-0 SN - 978-1-6654-9312-3 U6 - https://doi.org/10.1109/INDIN51400.2023.10218271 N1 - Beitrag: 2023 IEEE 21st International Conference on Industrial Informatics (INDIN), Lemgo, Deutschland, 17.07.2023 - 20.07.2023 PB - IEEE ER -