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E! 5516 ITERA - Integrative Test-Methodik für RFID Anwendungen

  • RFID hat sich als Automatisierungstechnologie im Logistiksektor seit Jahren etabliert, um einerseits Qualität, Sicherheit und Transparenz von Prozessen zu verbessern und anderer-seits die Möglichkeit für Rationalisierung und Kostensenkung zu bieten. - Eine Hürde für KMUs sind aber die hohen Implementierungskosten. Rund 50% der Kosten für Automatisierungssysteme, welche hier als Plattformtechnologie für RFID gesehen wird, entfallen auf die Software, Tendenz steigend. Außerdem entfallen wie-derum 60% bis sogar 80% im Bereich der hochverfügbaren Softwaresysteme auf das Testen der Software. - Es existieren Methodiken zum Testen von Automatisierungs-, Mechatroniksystemen und zum Testen von reinen Softwareapplikationen. Eine spezielle Testmethodik allerdings, die die Hard- und Software-Spezifika von RFID-Systemen berücksichtigt, existiert nicht. Um den Unsicherheiten beim Testen von RFID-Anwendungen zu begegnen zielte das Forschungsvorhaben ITERA darauf ab, eine neue Methodik für das gezielte Testen derartiger Anwendungen zuRFID hat sich als Automatisierungstechnologie im Logistiksektor seit Jahren etabliert, um einerseits Qualität, Sicherheit und Transparenz von Prozessen zu verbessern und anderer-seits die Möglichkeit für Rationalisierung und Kostensenkung zu bieten. - Eine Hürde für KMUs sind aber die hohen Implementierungskosten. Rund 50% der Kosten für Automatisierungssysteme, welche hier als Plattformtechnologie für RFID gesehen wird, entfallen auf die Software, Tendenz steigend. Außerdem entfallen wie-derum 60% bis sogar 80% im Bereich der hochverfügbaren Softwaresysteme auf das Testen der Software. - Es existieren Methodiken zum Testen von Automatisierungs-, Mechatroniksystemen und zum Testen von reinen Softwareapplikationen. Eine spezielle Testmethodik allerdings, die die Hard- und Software-Spezifika von RFID-Systemen berücksichtigt, existiert nicht. Um den Unsicherheiten beim Testen von RFID-Anwendungen zu begegnen zielte das Forschungsvorhaben ITERA darauf ab, eine neue Methodik für das gezielte Testen derartiger Anwendungen zu entwickeln. Dabei wurde im Projektverbund zunächst untersucht ob eine Integration von existierenden Techniken und Werkzeugen möglich ist und schließlich mit der Entwicklung einer Methodik zur Anwendung von generischen und reproduzierbaren Testszenarios für RFID-Anwendungen begonnen. Die Aufgabe der Technischen Hochschule Ingolstadt bestand im Besonderen darin, die wissenschaftliche Grundlage zu schaffen und anhand dieser eine Me-thodik und ein Konzept zum Testen von RFID Anwendungen zu entwickeln. Die aus dem Gesamtprojekt resultierende Methodik kann grob, wie folgt skizziert werden: - Modultests für Softwarekomponenten, durchgeführt mit Hilfe von vorhandenen Frameworks wie JUnit oder NUnit. - Integrationstest (Bottom-Up) für die verwendeten RFID-Hardwarekomponenten. Dient der Sicherstellung, dass die Funktion der Komponenten und Übertragungswege (Luftschnittstelle) gegeben ist. - Hauptfokus sind Integrationstests (Top-Down), rein für Softwarekomponenten mithilfe der zuvor definierten, virtuellen RFID-Komponenten. Ziel der virtuellen Komponenten ist es, dem Entwickler der Anwendungssoftware ein Mittel an die Hand zu geben, mit dem er Testläufe ohne jegliche RFID-bezogene Hardware ausführen kann. - Systemtest der vollständig aufgesetzten RFID-Systemumgebung. Aus der entwickelnden Methodik entstehen eine Reihe von Vorteilen, wie der frühen Fehler-erkennung, ein effizienterer Testvorgang, die Möglichkeit zur Anwendung agiler Entwick-lungsmethoden, parallelisieren von Testphasen und der Anwendung von bewährten Methoden der Leistungsanalyse und Leistungsverbesserung. Diese Aspekte schlagen sich positiv auf die Softwarequalität, Entwicklungszeit und somit auch auf die Entwicklungskosten nieder.show moreshow less

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Metadaten
Author:Christian FacchiORCiD
Subtitle (German):Teilvorhaben: Test-Konzept für RFID Anwendungen ; Abschlussbericht zum Projekt
Language:German
Document Type:Report
Date of first Publication:2015/07/15
Year of first Publication:2014
Publisher:Technische Hochschule Ingolstadt
Place of publication:Ingolstadt
Pages:III, 30
GND Keyword:RFID
URN:urn:nbn:de:bvb:573-6072
Faculties / Institutes / Organizations:Fakultät Elektrotechnik und Informatik
ZAF - Zentrum für angewandte Forschung
Licence (German):License Logo Urheberrechtsschutz
Release Date:2015/07/15