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Keywords
- Interferometer (1)
- Iridium (1)
- Röntgenspiegel (1)
- Schichtspannung (1)
Year of publication
- 2018 (1)
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An der Hochschule Aschaffenburg werden iridiumbasierte Schichtsysteme für röntgenastronomische Anwendungen hergestellt. Unter Nutzung eines Weißlichtinterferometers wurde hierfür ein Verfahren zur Vermessung der inhärenten Schichtspannungen entwickelt. Erste vielversprechende Ergebnisse von spannungsarmen Röntgenreflexionsbeschichtungen werden vorgestellt.