Analyse der Schichtspannungen von Röntgenspiegeln mit einem Weißlichtinterferometer
- An der Hochschule Aschaffenburg werden iridiumbasierte Schichtsysteme für röntgenastronomische Anwendungen hergestellt. Unter Nutzung eines Weißlichtinterferometers wurde hierfür ein Verfahren zur Vermessung der inhärenten Schichtspannungen entwickelt. Erste vielversprechende Ergebnisse von spannungsarmen Röntgenreflexionsbeschichtungen werden vorgestellt.
Author: | Thorsten DöhringORCiD, Anne-Catherine Probst, Sebastian Zeising |
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URL: | https://www.dgao-proceedings.de/download/119/119_p10.pdf |
ISSN: | 1614-8436 |
Parent Title (German): | DGaO-Proceedings |
Publisher: | Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V. |
Place of publication: | Erlangen |
Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | German |
Year of Completion: | 2018 |
Date of first Publication: | 2018/07/13 |
Creating Corporation: | Hochschule Aschaffenburg |
Release Date: | 2018/09/24 |
GND Keyword: | Röntgenspiegel; Interferometer; Iridium; Schichtspannung |
Volume: | 2018 |
Issue: | 2018 |
Page Number: | 2 |
First Page: | P10-1 |
Last Page: | P10-2 |
Urheberrecht: | 1 |
research focus : | Materials / Innovative Material Processing |
Materials / Material Testing & Sensor Technology | |
Licence (German): | Keine Lizenz - es gilt das deutsche Urheberrecht |