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Analyse der Schichtspannungen von Röntgenspiegeln mit einem Weißlichtinterferometer

  • An der Hochschule Aschaffenburg werden iridiumbasierte Schichtsysteme für röntgenastronomische Anwendungen hergestellt. Unter Nutzung eines Weißlichtinterferometers wurde hierfür ein Verfahren zur Vermessung der inhärenten Schichtspannungen entwickelt. Erste vielversprechende Ergebnisse von spannungsarmen Röntgenreflexionsbeschichtungen werden vorgestellt.
Metadaten
Author:Thorsten DöhringORCiD, Anne-Catherine Probst, Sebastian Zeising
URL:https://www.dgao-proceedings.de/download/119/119_p10.pdf
ISSN:1614-8436
Parent Title (German):DGaO-Proceedings
Publisher:Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.
Place of publication:Erlangen
Document Type:Conference Proceeding
Language:German
Year of Completion:2018
Date of first Publication:2018/07/13
Creating Corporation:Hochschule Aschaffenburg
Release Date:2018/09/24
GND Keyword:Röntgenspiegel; Interferometer; Iridium; Schichtspannung
Volume:2018
Issue:2018
Page Number:2
First Page:P10-1
Last Page:P10-2
Urheberrecht:1
research focus :Materials / Innovative Material Processing
Materials / Material Testing & Sensor Technology
Licence (German):Keine Lizenz - es gilt das deutsche Urheberrecht
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