TY - CHAP A1 - Döhring, Thorsten A1 - Probst, Anne-Catherine A1 - Zeising, Sebastian T1 - Analyse der Schichtspannungen von Röntgenspiegeln mit einem Weißlichtinterferometer T2 - DGaO-Proceedings N2 - An der Hochschule Aschaffenburg werden iridiumbasierte Schichtsysteme für röntgenastronomische Anwendungen hergestellt. Unter Nutzung eines Weißlichtinterferometers wurde hierfür ein Verfahren zur Vermessung der inhärenten Schichtspannungen entwickelt. Erste vielversprechende Ergebnisse von spannungsarmen Röntgenreflexionsbeschichtungen werden vorgestellt. KW - Röntgenspiegel KW - Interferometer KW - Iridium KW - Schichtspannung Y1 - 2018 UR - https://www.dgao-proceedings.de/download/119/119_p10.pdf SN - 1614-8436 VL - 2018 IS - 2018 SP - P10-1 EP - P10-2 PB - Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V. CY - Erlangen ER -