TY - CHAP A1 - Schwarzer, Christian T1 - Zuverlässigkeit von Lötverbindungen in Abhängigkeit von ihrem Porenanteil T2 - 22. Europäisches Elektroniktechnologie-Kolleg 27.-31. März 2019 Colonia de Sant Jordi, Mallorca KW - Lötverbindung KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2019 ER -