TY - CONF A1 - Schwarzer, Christian T1 - Zuverlässigkeit von Lötverbindungen in Abhängigkeit von ihrem Porenanteil T2 - 22. Europäisches Elektroniktechnologie-Kolleg 27.-31. März 2019 Colonia de Sant Jordi, Mallorca KW - Lötverbindung KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2019 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-h-ab/frontdoor/index/index/docId/1401 ER -