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Author
Engelmann, Bastian
(8)
Schmitt, Robert
(8)
Driessen, Sascha
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Hafner, Philip
(2)
Pfeifer, Tilo
(2)
Bosse, L
(1)
Dietrich, Björn
(1)
Gillner, A
(1)
Poprawe, R
(1)
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2008
(1)
2007
(1)
2006
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2005
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Approaches for the control of microsystem assembly by image processing
(2005)
Schmitt, Robert
;
Engelmann, Bastian
Messstrategien für die zerstörungsfreie Schichtmessung mittels Ultraschallmikroskopie Strategies for the Non-Destructive Characterization of Thin Layers with Scanning Acoustic Microscopy
(2008)
Schmitt, Robert
;
Dietrich, Björn
;
Hafner, Philip
;
Engelmann, Bastian
Strategies for the non-destructive characterization of thin layers with Scanning Acoustic Microscopy
(2007)
Schmitt, Robert
;
Hafner, Philip
;
Engelmann, Bastian
Keine Ermessensfrage!: Warum fähige Messgeräte wichtige Voraussetzung für Oberflächenoptimierungen sind
(2005)
Schmitt, Robert
;
Engelmann, Bastian
Controlling the assembly of micro systems by image processing
(2006)
Schmitt, Robert
;
Driessen, Sascha
;
Engelmann, Bastian
Inline-Verfahren
(2005)
Bosse, L
;
Driessen, Sascha
;
Engelmann, Bastian
;
Gillner, A
;
Poprawe, R
;
Pfeifer, Tilo
;
Schmitt, Robert
Offline-Verfahren
(2005)
Pfeifer, Tilo
;
Schmitt, Robert
;
Driessen, Sascha
;
Engelmann, Bastian
Untersuchung von Zusammenhängen zwischen Oberflächenkenngrößen und Funktionsparametern
(2005)
Schmitt, Robert
;
Engelmann, Bastian
1
to
8
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