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Comparison of Five Methods in Determination of Parasitic Resistance in Ion Implamted GaAs FETs

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Metadaten
Author:Peter Baureis, T. Zimmer
Parent Title (English):Failure Physics and Analysis
Subtitle (English):Proceedings 2nd European Symposium On Reliability of Electron Devices (ESREF 1991)
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:1991
Release Date:2017/08/17
First Page:467
Last Page:474
Institutes and faculty:Fakultäten / Fakultät für angewandte Natur- und Geisteswissenschaften
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