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Strategies for the non-destructive characterization of thin layers with Scanning Acoustic Microscopy

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Metadaten
Author:Robert Schmitt, Philip Hafner, Bastian Engelmann
Parent Title (English):tm - Technisches Messen
Document Type:Article
Language:English
Year of publication:2007
Release Date:2023/08/17
Volume:74
Issue:6
Pages/Size:9
First Page:365
Last Page:373
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